Phasics 提供 SID4 系列高性能/高分辨率波前傳感器以及包含該波前傳感器的 Kaleo 系列干涉儀。這些產品擁有支持 UV、VIS、SWIR、DWIR 和 LWIR 等各個波長帶的一系列型號，用于激光測量、光學測量、天文學、國防、太空和半導體制造等應用和市場。

SID4 UV

SID4 UV 可在低至 250 nm 的波長下提供高分辨率波前測量，使其成為紫外光學檢測、紫外激光表征(用于光刻和半導體應用)以及透鏡和晶圓表面檢測的理想選擇。

● 光譜范圍 UV (190-400 nm)

● 超高分辨率250×250采樣

● 高靈敏度

● 經濟實惠的 2 nm RMS UV 波前測量解決方案

SID4 UV HR

SID4 UV HR 波前傳感器基于 Phasics 的技術，在 190 nm 至 400 nm 的紫外光譜范圍內提供高分辨率(512 x 512 個測量點)和靈敏度(2 nm RMS)。因此，SID4 UV HR 非常適合光學元件特性分析(用于光刻、半導體……)和表面檢查(鏡頭和晶圓)。

● 靈敏度低至 190 nm

● 高靈敏度 2 nm RMS

● 非常高的分辨率(512 x 512采樣)

● 光譜范圍 紫外 (190 - 400 nm)

SID4

SID4 是我們入門級但高分辨率的波前傳感器，覆蓋可見光和近紅外范圍，是任何激光或光學計量應用的多功能工具。高靈敏度 - 2 nm RMS

400 - 1100 nm 范圍內消色差，無需校準

自參考對振動不敏感且易于對準

光譜范圍 VIS - NIR (400 - 1100 nm)

SID4 HR V

SID4 HR V 是市場上第一款現成的真空兼容波前傳感器，為高能激光設施中的自適應光學開辟了新視野。在實際實驗條件下現場測量波前，表征壓縮機容器內的激光束，并測量目標旁邊的氣體射流和等離子體密度!借助 Phasics 的策略，現在可以校正真空室內每個光學元件的像差，直至目標位置。SID4 HR V 還可用于在環(huán)境測試活動期間進行波前測量。

真空兼容性 > 10 -6 mbar

不受熱和機械真空約束影響

低排氣

光譜范圍 VIS - NIR (400 - 1100 nm)

SID4 HR

SID4 HR 為苛刻的波前測量應用帶來了超高相位采樣 (416 x 360) 和高動態(tài)范圍 (500 µm PV)。其大孔徑和高波前靈敏度使其非常適合直接測量大型發(fā)散光束，而無需中繼光學元件。

非常高的分辨率(416 x 360 相位像素)

大分析瞳孔：9.98 x 8.64 mm2

直接測量高達 0.8 NA 的光束

光譜范圍 VIS - NIR (400 - 1100 nm)

SID4 SWIR

SID4 SWIR 波前傳感器將 Phasics 的技術與 InGaAs 探測器相結合。憑借其高空間分辨率(80 x 64 相位像素)和高靈敏度，它可提供從 900 nm 到 1.7μm 的精確波前測量。SID4 SWIR 是一種創(chuàng)新解決方案，用于測試光通信、檢查儀器或軍事和監(jiān)視設備中的夜視中使用的 SWIR 光學系統(tǒng)。

高分辨率 – 80 x 64 相位像素

高靈敏度——兼容低能紅外源

結構緊湊，自參考，易于設置

短波紅外光譜范圍 (900 - 1700 nm)

SID4 SWIR HR

SID4 SWIR HR 波前傳感器將 Phasics 的技術與 InGaAs 探測器相結合。憑借其超高空間分辨率(160 x 128 相位像素)和高靈敏度，它可提供從 900 nm 到 1.7 µm 的精確波前測量。SID4 SWIR HR 是一種創(chuàng)新解決方案，用于測試光通信、檢查儀器或軍事和監(jiān)視設備中的夜視中使用的 SWIR 光學系統(tǒng)。

擴展光譜范圍從 0.9 至 1.7 µm

非常高的分辨率——160 x 128 相位像素

高靈敏度——兼容低能紅外源

短波紅外光譜范圍 (900 - 1700 nm)

SID4 DWIR

SID4 DWIR 是一款現成的高分辨率波前傳感器，適用于 3 至 5 µm 和 8 至 14 µm 的雙波段紅外。它非常適合表征紅外光學器件、黑體源、3.39 µm 或 10.6 µm 激光束和系統(tǒng)。高分辨率 – 160 x 120 相位像素

使用同一傳感器的 MWIR 和 LWIR 波段

無需中繼透鏡即可進行高數值孔徑測量

光譜范圍 MWIR(3 - 5 μm) LWIR(8 -14 μm)

SID4 LWIR

SID4 LWIR 帶來長波長紅外區(qū)域(8 μm 至 14 μm)的高分辨率波前測量，并表征用于 CO2 和 OPO 激光束測量、熱成像、安全和安全視覺的紅外組件和鏡頭。

8 至 14 μm 的整個長波紅外波段消色差

非制冷焦平面陣列技術

高分辨率。 160 x 120 相位像素

光譜范圍 LWIR (8 -14 μm)

應用領域

1、3D 表面形貌測量

測量表面特性是控制和調整制造方法以提高樣品整體性能的一種方法。對于此類應用，Phasics SID4 定量相位成像相機可集成在商用或自制光學顯微鏡裝置上。Phasics 的專業(yè)軟件實時輸出光程差(OPD) 圖，可直接轉置為表面形貌。Phasics 表面測量解決方案以其緊湊性和易于集成性而脫穎而出。事實上，SID4 波前傳感器與傳統(tǒng)科學相機一樣緊湊且易于集成。集成可以直接在生產線上或計量實驗室中進行。

2、激光束測試

Phasics 的波前傳感器基于其專有技術，可同時提供 相位和強度測量，具有高分辨率。SID4 波前傳感器與其光束分析軟件相結合，可對激光進行全面診斷：波前像差、強度分布、激光光束質量參數(M2、腰圍大小和位置等)。鑒定在單次采集中完成。Phasics 的波前分析儀可放置在光學裝置的任何位置，無論光束是準直的還是發(fā)散的。Phasics SID4 波前傳感器適用于任何激光，無論是連續(xù)激光還是脈沖激光，從紫外線到遠紅外線，包括寬帶可調光源、拍瓦激光鏈等。

3、鏡頭及組裝測試

Phasics 的四波橫向剪切干涉 (QWLSI) 波前傳感技術具有的功能，無需任何中繼光學器件即可測量高數值孔徑光束。這一優(yōu)勢簡化了測量設置。只需一次拍攝，即可測量波前誤差 (WFE)和調制傳遞函數 (MTF) 。物鏡、子組件和最終組件的鑒定完整且易于實施。事實上，SID4 波前傳感器只需放置在焦點后幾毫米的發(fā)散光束中即可。測量后，借助 Phasics 軟件模塊 DesignPro，可以將波前測量結果與 Zemax 理論模擬進行比較。某些測試協議仍然需要雙通測試配置，這也與 SID4 波前傳感器兼容。

4、定量相位成像

Phasics 引入了光學顯微鏡的新模式：定量相位成像。Phasics 的 創(chuàng)新技術依賴于類似相機的儀器，可 輕松對活細胞、組織或任何其他半透明樣本等標本進行無標記成像 。它提供無偽影的定量相位圖像，可準確測量有價值的參數：形態(tài)、干質量、單個細胞的密度……它適用于癌癥和干細胞研究、藥物篩選、血液測試……智能儀器只需插入任何光學裝置 即可輕松實現多模態(tài)，例如相位熒光組合。它是最容易集成的 QPI 技術，是與人工智能算法相結合的 高內涵篩選平臺的寶貴資產。

法國進口PHASICS波前傳感器供應所有型號

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